InSe–Te van derWaals heterostructures for current rectification and photodetection

异质结 光探测 整改 光电子学 光电效应 材料科学 暗电流 光电探测器 电压 物理 量子力学
作者
Hao Wang,Guoyu Xian,Li Liu,Xuan-Ye Liu,Hui Guo,Lihong Bao,Haitao Yang,Hongjun Gao
出处
期刊:Chinese Physics B [IOP Publishing]
卷期号:32 (8): 087303-087303 被引量:2
标识
DOI:10.1088/1674-1056/acd2b1
摘要

As the basis of modern electronics and optoelectronics, high-performance, multi-functional p–n junctions have manifested and occupied an important position. However, the performance of the silicon-based p–n junctions declines gradually as the thickness approaches to few nanometers. The heterojunction constructed by two-dimensional (2D) materials can significantly improve the device performance compared with traditional technologies. Here, we report the InSe–Te type-II van der Waals heterostructures with rectification ratio up to 1.56 × 10 7 at drain–source voltage of ± 2 V. The p–n junction exhibits a photovoltaic and photoelectric effect under different laser wavelengths and densities and has high photoresponsivity and detectivity under low irradiated light power. Moreover, the heterojunction has stable photo/dark current states and good photoelectric switching characteristics. Such high-performance heterostructured device based on 2D materials provides a new way for futural electronic and optoelectronic devices.
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