高电子迁移率晶体管
串扰
电子工程
桥(图论)
工程类
计算机科学
光电子学
电气工程
物理
材料科学
晶体管
电压
医学
内科学
作者
Yushan Liu,Xuyang Liu,Xiao Li,Haiwen Yuan
出处
期刊:IEEE Transactions on Power Electronics
[Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期:2024-03-26
卷期号:39 (7): 8146-8161
被引量:16
标识
DOI:10.1109/tpel.2024.3381638
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI