Microdiffraction from stacking faults and twin boundaries in F.c.c. crystals

堆积 平面的 材料科学 衍射 电子衍射 结晶学 叠加断层 凝聚态物理 分子物理学 光学 化学 物理 核磁共振 计算机科学 计算机图形学(图像)
作者
Jing Zhu,J. M. Cowley
出处
期刊:Journal of Applied Crystallography [International Union of Crystallography]
卷期号:16 (2): 171-175 被引量:36
标识
DOI:10.1107/s0021889883010213
摘要

Electron microdiffraction patterns have been obtained from regions of diameter about 15 Å in thin crystals of stainless steel containing twin boundaries and stacking faults. The diffraction spots show splittings which are characteristic of the type of defect present as a result of interference effects in the coherent convergent electron beam. The observations of spot splitting are in good agreement with calculations based on simple theoretical models. In conjunction with previous work on antiphase domain boundaries [Zhu & Cowley (1982). Acta Cryst. A 38 , 718–724] these results suggest that the observation of spot splitting is of general relevance for the study of all planar faults in thin crystals.

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