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Wafer-Scalable Single-Layer Amorphous Molybdenum Trioxide

材料科学 纳米技术 三氧化钼 单层 无定形固体 氧化物 薄脆饼 电致变色 电阻随机存取存储器 光电子学 电极 化学 物理化学 有机化学 冶金
作者
Md. Hasibul Alam,Sayema Chowdhury,Anupam Roy,Xiaohan Wu,Ruijing Ge,Michael A. Rodder,Jun Chen,Yang Lu,Chen Stern,Lothar Houben,Robert Chrostowski,Scott Burlison,Sung Jin Yang,Martha I. Serna,Ananth Dodabalapur,Filippo Mangolini,Doron Naveh,Jack C. Lee,Sanjay K. Banerjee,Jamie H. Warner
出处
期刊:ACS Nano [American Chemical Society]
卷期号:16 (3): 3756-3767 被引量:24
标识
DOI:10.1021/acsnano.1c07705
摘要

Molybdenum trioxide (MoO3), an important transition metal oxide (TMO), has been extensively investigated over the past few decades due to its potential in existing and emerging technologies, including catalysis, energy and data storage, electrochromic devices, and sensors. Recently, the growing interest in two-dimensional (2D) materials, often rich in interesting properties and functionalities compared to their bulk counterparts, has led to the investigation of 2D MoO3. However, the realization of large-area true 2D (single to few atom layers thick) MoO3 is yet to be achieved. Here, we demonstrate a facile route to obtain wafer-scale monolayer amorphous MoO3 using 2D MoS2 as a starting material, followed by UV-ozone oxidation at a substrate temperature as low as 120 °C. This simple yet effective process yields smooth, continuous, uniform, and stable monolayer oxide with wafer-scale homogeneity, as confirmed by several characterization techniques, including atomic force microscopy, numerous spectroscopy methods, and scanning transmission electron microscopy. Furthermore, using the subnanometer MoO3 as the active layer sandwiched between two metal electrodes, we demonstrate the thinnest oxide-based nonvolatile resistive switching memory with a low voltage operation and a high ON/OFF ratio. These results (potentially extendable to other TMOs) will enable further exploration of subnanometer stoichiometric MoO3, extending the frontiers of ultrathin flexible oxide materials and devices.
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