Chitosan as a Water-Developable 193 nm Photoresist for Green Photolithography

光刻胶 微电子 壳聚糖 光刻 材料科学 背景(考古学) 纳米技术 蚀刻(微加工) 水溶液 涂层 化学工程 化学 图层(电子) 有机化学 工程类 古生物学 生物
作者
Olha Sysova,Paule Durin,Corinne Gablin,Didier Léonard,Alexandre Téolis,Stéphane Trombotto,Thierry Delair,Dominique Berling,Isabelle Servin,Raluca Tiron,Arnaud Bazin,Jean-Louis Leclercq,Yann Chevolot,Olivier Soppera
出处
期刊:ACS applied polymer materials [American Chemical Society]
卷期号:4 (6): 4508-4519 被引量:13
标识
DOI:10.1021/acsapm.2c00475
摘要

The development of environmentally friendly materials and processes is a major issue that concerns all industrial sectors, including microelectronics. The aim of this study is to demonstrate the possibility of using chitosan-based photoresists for microelectronic applications on silicon by 193 nm photolithography. The photopatterning of chitosan films is demonstrated and analyzed by different spectroscopy and microscopy techniques. In particular, it is shown that 193 nm irradiation allows one to induce chain breaks that modify the solubility of chitosan in an aqueous developing solution, without denaturing the chitosan macromolecule chains. This mechanism allows one to obtain patterns, and it is shown that these patterns can be transferred by physical etching into silica. It is also demonstrated that the formulated resins are compatible with industrial spin-coating and exposure tools, which opens very interesting perspectives for these chitosan-based positive resins in a microelectronic context.
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