Dopants and defects in ultra-wide bandgap semiconductors

材料科学 掺杂剂 半导体 带隙 光电子学 兴奋剂 宽禁带半导体 工程物理 纳米技术 工程类
作者
John L. Lyons,Darshana Wickramaratne,Anderson Janotti
出处
期刊:Current Opinion in Solid State & Materials Science [Elsevier]
卷期号:30: 101148-101148 被引量:1
标识
DOI:10.1016/j.cossms.2024.101148
摘要

Ultra-wide bandgap semiconductors, with bandgaps greater than 3.5 eV, have immense potential in power-switching electronic applications and ultraviolet light emitters. But the development of these materials faces a number of challenges, many of which relate to controlling electrical conductivity. In this work, we review the major obstacles for a set of these materials (focusing on AlGaN, AlN, BN, Ga2O3, Al2O3, and diamond) including limitations in n- and p-type doping and the effects of impurities and native point defects. We present an in-depth discussion on ultra-wide-bandgap nitride and oxide semiconductors, which face several similar challenges, as well as diamond, which presents a more unique scenario. The biggest obstacle for these semiconductors is attaining bipolar electrical conductivity, which means achieving both n-type and p-type conductivity within the same material. Toward this end, we also discuss potential future research directions that may lead to the development of bipolar ultra-wide bandgap semiconductor devices.
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