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工程类
微电子
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材料科学
纳米技术
作者
Pan Xu,Ning An,Zhenzhong Yang,Yuexing Wang,Quanfeng Zhou,Shuairong Deng,Xiangyu Sun
出处
期刊:Measurement
[Elsevier]
日期:2024-04-18
卷期号:233: 114741-114741
标识
DOI:10.1016/j.measurement.2024.114741
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