Low Resistance Metal Contacts to MoS2Devices with Nickel-Etched-Graphene Electrodes

石墨烯 材料科学 接触电阻 电极 氧化石墨烯纸 制作 石墨烯泡沫 纳米技术 光电子学 工作职能 冶金 图层(电子) 化学 医学 替代医学 物理化学 病理
作者
Wei Sun Leong,Xin Luo,Yida Li,Khoong Hong Khoo,Su Ying Quek,John T. L. Thong
出处
期刊:ACS Nano [American Chemical Society]
卷期号:9 (1): 869-877 被引量:197
标识
DOI:10.1021/nn506567r
摘要

We report an approach to achieve low-resistance contacts to MoS2 transistors with the intrinsic performance of the MoS2 channel preserved. Through a dry transfer technique and a metal-catalyzed graphene treatment process, nickel-etched-graphene electrodes were fabricated on MoS2 that yield contact resistance as low as 200 ohm-um. The substantial contact enhancement (~2 orders of magnitude) as compared to pure nickel electrodes, is attributed to the much smaller work function of nickel-graphene electrodes, together with the fact that presence of zigzag edges in the treated graphene surface enhances tunneling between nickel and graphene. To this end, the successful fabrication of a clean graphene-MoS2 interface and a low resistance nickel-graphene interface is critical for the experimentally measured low contact resistance. The potential of using graphene as an electrode interlayer demonstrated in this work paves the way towards achieving high performance next-generation transistors.
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