Predicted properties of microhollow cathode discharges in xenon

阴极 氙气 原子物理学 托尔 电流(流体) 辉光放电 电子 电压 化学 等离子体 材料科学 物理 核物理学 热力学 量子力学 物理化学
作者
Jean‐Pierre Boeuf,L. C. Pitchford,K.H. Schoenbach
出处
期刊:Applied Physics Letters [American Institute of Physics]
卷期号:86 (7) 被引量:138
标识
DOI:10.1063/1.1862781
摘要

A fluid model has been developed and used to help clarify the physical mechanisms occurring in microhollow cathode discharges (MHCD). Calculated current-voltage (I-V) characteristics and gas temperatures in xenon at 100 Torr are presented. Consistent with previous experimental results in similar conditions, we find a voltage maximum in the I-V characteristic. We show that this structure reflects a transition between a low-current, abnormal discharge localized inside the cylindrical hollow cathode to a higher-current, normal glow discharge sustained by electron emission from the outer surface of the cathode. This transition, due to the geometry of the device, is a factor contributing to the well-known stability of MHCDs.

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