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作者
Daniel T. W. Toolan,Michael P. Weir,Shuangqing Wang,Simon Dowland,Zhilong Zhang,James Xiao,Jonathan Rawle,Neil C. Greenham,Richard H. Friend,Akshay Rao,Richard A. Jones,Anthony J. Ryan
出处
期刊:Nanoscale horizons
[The Royal Society of Chemistry]
日期:2023-01-01
卷期号:8 (8): 1090-1097
被引量:1
摘要
This work uses in situ grazing incidence X-ray scattering to provide new insights into the self-assembly behaviour that occurs when a mixture of quantum dots, small molecule organic semiconductors, and solvent dries to form a blended film.
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