Buffered Oxide Etchant Post-Treatment of a Silicon Nanofilm for Low-Cost and Performance-Enhanced Chemical Sensors

材料科学 氧化物 制作 纳米技术 氧化硅 蒸发 化学工程 光电子学 有机化学 医学 氮化硅 替代医学 物理 化学 病理 工程类 冶金 热力学
作者
Min Gao,Zhi‐Jun Zhao,Hyeong-Gyun Kim,Ming-Liang Jin,Panpan Li,Tae-Hwan Kim,Kyungnam Kang,Incheol Cho,Jun‐Ho Jeong,Inkyu Park
出处
期刊:ACS Applied Materials & Interfaces [American Chemical Society]
卷期号:12 (33): 37128-37136 被引量:3
标识
DOI:10.1021/acsami.0c08977
摘要

The high surface-to-volume ratio of nanostructured materials is the key factor for excellent performance when applied to chemical sensors. In order to achieve this by a facile and low-cost fabrication strategy, buffered oxide etchant (BOE) treatment of a silicon (Si)-based sensor was proposed. An n+–n––n+ Si nanofilm structure was treated with a BOE, and palladium nanoparticles (PdNPs) were coated on the n-type Si channel surface via short-time electron beam evaporation to enable a highly sensitive and selective sensing of hydrogen (H2) gas. The BOE treatment effect on lightly doped n-type Si was investigated, and the surface morphology of the etched Si was analyzed. Furthermore, the H2 sensing characterization of PdNP-decorated Si devices with various BOE treatment times was systematically evaluated at room temperature. The results revealed that the surface of n-type Si is roughened by BOE treatment, which can further enhance the H2-sensing performance of Pd-decorated Si. The elaborate study on the BOE-post-treated Si H2 sensor showed that the performance enhancement was stable. The BOE treatment strategy was also applied to the nanopatterned Si sensors, which induced a clear performance enhancement for the H2 sensing.

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