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堪可燕
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2021-04-01 加入
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低压I/O接口的静电放电保护器件设计与机理研究
11个月前
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集成电路的典型ESD防护设计研究
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1年前
doi号对应的文章是Aging effects of Li-Ti-O superconducting compounds,但是现在的文章名是CFX (X=1-3) Radical Measurements in ECR Etching Plasma Employing C4 F 8 Gas by Infrared Diode Laser Absorption Spectroscopy
1年前
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2年前
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2年前
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