标题 |
X-ray diffraction: a powerful method of characterizing nanomaterials
X射线衍射:表征纳米材料的有力方法
相关领域
纳米材料
表征(材料科学)
材料科学
无定形固体
衍射
X射线晶体学
纳米技术
薄膜
结晶学
化学工程
光学
化学
物理
工程类
|
网址 | |
DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
其它 |
期刊:Recent Research in Science and Technology 作者:Ravi Sharma; D. P. Bisen; Usha Shukla; Bhupat Sharma 出版日期:2012-10-19 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|