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 Imprint-Correlated Retention Loss in Hf$_{\text{0}.\text{5}}$Zr$_{\text{0}.\text{5}}$O$_{\text{2}}$ Ferroelectric Thin Film Through Wide-Temperature Characterizations Hf$_{\text{0}.\text{5}}$Zr$_{\text{0}.\text{5}}$O$_{\text{2}}$铁电薄膜的宽温表征中的压印相关保留损失
相关领域
铁电性
材料科学
薄膜
物理
凝聚态物理
光电子学
纳米技术
电介质
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Xiaopeng Li; Lu Tai; Pengpeng Sang; Xiaoyu Dou; Xuepeng Zhan; et al 出版日期：2024-07-31 |
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