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Gallium In-Depth Profile in Bromine- Etched Copper–Indium–Galium–(Di)selenide (CIGS) Thin Films Inspected Using Raman Spectroscopy
用拉曼光谱研究溴刻蚀铜铟镓硒(CIGS)薄膜中镓的深度分布
相关领域
硒化铜铟镓太阳电池
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期刊:Applied Spectroscopy 作者:Jacopo Parravicini; M. Acciarri; Alberto Lomuscio; Matteo Murabito; A. Le Donne; et al 出版日期:2016-12-22 |
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