| 标题 |
 Aluminium corrosion in power semiconductor devices 功率半导体器件中的铝腐蚀
相关领域
LDMOS
材料科学
钝化
二极管
电气工程
晶体管
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光电子学
电压
复合材料
图层（电子）
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Joonas Leppänen; Jonny Ingman; J. Peters; Michael Hanf; R. Ross; et al 出版日期：2022-10-01 |
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