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Coexistence of analog and digital resistive switching behaviors in TiN/SiNx resistive random access memory device
TiN/SiNx电阻随机存取存储器件中模拟和数字电阻开关行为的共存
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Haixia Gao; Yang Zhao; Shilong Zhu; Xuan Qiu; Wei Wang; et al 出版日期:2024-11-18 |
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