标题 |
![]() 用于空间光调制器相位分辨成像的两步相移干涉测量
相关领域
干涉测量
空间光调制器
相(物质)
光学
电光调制器
相位调制
物理
相位成像
材料科学
光调制器
相位噪声
量子力学
显微镜
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:arXiv (Cornell University) 作者:Lark E. Bradsby; Andrew A. Voitiv; Mark E. Siemens 出版日期:2024-09-13 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|