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![]() 白光光谱干涉仪中的约束拟合法同时测量膜厚和折射率
相关领域
光学
折射率
白光干涉法
干涉测量
材料科学
色散(光学)
波长
天文干涉仪
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期刊:Optics Express 作者:Lin Yuan; Tong Guo; Dawei Tang; Haitao Liu; Xinyuan Guo 出版日期:2021-12-10 |
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