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 ATPG scan logic failure analysis: a case study of logic ICs – fault isolation, defect mechanism identification and yield improvement ATPG扫描逻辑失效分析&以逻辑集成电路为例&故障隔离、缺陷机理识别与成品率提高
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Liming Gao; Christian Burmer; Frank Siegelin 出版日期：2006-09-01 |
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