| 标题 |
 A Thin-film Reconfigurable SiC Thermal Test Chip for Reliability Monitoring in Harsh Environments 用于恶劣环境可靠性监测的薄膜可重构SiC热测试芯片
相关领域
材料科学
碳化硅
温度循环
结温
可靠性（半导体）
分层（地质）
光电子学
半导体
宽禁带半导体
热导率
造型（装饰）
炸薯条
热阻
功率半导体器件
复合材料
热的
电气工程
功率（物理）
工程类
古生物学
物理
量子力学
电压
生物
气象学
俯冲
构造学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊： 作者：Romina Sattari; Henk van Zeijl; Guoqi Zhang 出版日期：2023-05-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
zzzyyy
乐乐乐乐乐乐
浅尝离白
shinysparrow
kento
愤怒的豆腐人
景辣条
寻道图强
竹筏过海
YifanWang
研友_ZAVbe8
鬼见愁
jyy
睡觉晒太阳
徐叽钰
不配.
mmyhn
吃不饱星球球长
华仔
皖公网安备34019202002308
