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 Radiation-hardened-by-design clocking circuits in 0.13-μm CMOS technology 0.13 μ m CMOS工艺中的抗辐射设计时钟电路
相关领域
CMOS芯片
电子线路
辐射硬化
电气工程
电子工程
计算机科学
光电子学
辐射
材料科学
物理
工程类
光学
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期刊：Journal of instrumentation 作者：Yuan You; Deping Huang; J Chen; D. T. Gong; T Liu; et al 出版日期：2014-01-16 |
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