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Effect of Random Dopant Fluctuation on Data Retention Time Distribution in DRAM
随机掺杂波动对DRAM中数据保持时间分布的影响
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期刊:I.E.E.E. transactions on electron devices/IEEE transactions on electron devices 作者:Kyoung Yeon Kim; Byung‐Gook Park 出版日期:2021-11-01 |
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