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Regularized deconvolution for structured illumination microscopy via accelerated linearized ADMM
基于加速线性化ADMM的结构照明显微镜正则化反卷积
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期刊:Optics and Laser Technology 作者:Yueshu Xu; Yile Sun; Hanmeng Wu; Wen Cheng; Ling Bai; et al 出版日期:2024-02-01 |
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