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 3D micromorphology-contact resistance-conductivity insights of quasi 2D Cd1-xPbxS thin films: Investigation based on stereometric and fractal analysis 准二维Cd1-xPbxS薄膜的三维微观形貌-接触电阻-电导率研究：基于立体测量和分形分析的研究
相关领域
材料科学
薄膜
表面粗糙度
复合材料
微观结构
分形维数
分形分析
兴奋剂
表面光洁度
矿物学
分析化学（期刊）
分形
纳米技术
光电子学
化学
色谱法
数学分析
数学
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期刊：Materials Chemistry and Physics 作者：Abhijeet Das; Robert Saraiva Matos; Erveton P. Pinto; Ram Pratap Yadav; Ştefan Ţălu; et al 出版日期：2021-12-16 |
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