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 Fast structured illumination microscopy with reflectance disturbance resistibility and improved accuracy 具有抗反射干扰和提高精度的快速结构照明显微镜
相关领域
光学
材料科学
反射率
显微镜
探测器
反射（计算机编程）
基点
漫反射
物理
计算机科学
程序设计语言
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期刊：Optics Express 作者：Zhongye Xie; Yan Tang; Yu He; Junbo Liu; Jinhua Feng; et al 出版日期：2019-07-16 |
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