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 Single event transient analysis of isolation problems for the high side devices in a 0.18μm BCD Process 0.18 μ m BCD工艺中高端器件隔离问题的单事件瞬态分析
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期刊： 作者：WU Su-zhen; Genshen Hong; Rubin Xie; Qingdong Zhang; Haiming Xu; et al 出版日期：2023-05-24 |
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