标题 |
Improved resistive switching characteristics of a multi-stacked HfO2/Al2O3/HfO2 RRAM structure for neuromorphic and synaptic applications: experimental and computational study
相关领域
电阻随机存取存储器
材料科学
原子层沉积
堆积
高分辨率透射电子显微镜
光电子学
氧化铟锡
偏压
分析化学(期刊)
纳米技术
图层(电子)
透射电子显微镜
电极
电压
化学
电气工程
物理化学
工程类
有机化学
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:RSC Advances 作者:Ejaz Ahmad Khera; Chandreswar Mahata; Muhammad Imran; Niaz Ahmad Niaz; Fayyaz Hussain; et al 出版日期:2022 |
求助人 |
是阿水啊 在
2022-04-22 17:52:09 发布,悬赏 20 积分
|
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|