| 标题 |
 Evaluation of residual stress in InP and InAs (100) substrates obtained from single crystals grown by LEC and VGF methods 相关领域
薄脆饼
材料科学
残余应力
拉曼光谱
平坦度（宇宙学）
光电子学
分析化学（期刊）
光学
复合材料
化学
物理
宇宙学
色谱法
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Yuan Zhou; Youwen Zhao; Guiying Shen; Hui Xie; Liu Jingming; et al 出版日期：2021-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
tianzml0
oceanao
含蓄的明雪
不配.
吃不饱星球球长
苏卿
薰硝壤
嗯哼
Singularity
彭于彦祖
哎嘿
pcr163
甜甜玫瑰
暮霭沉沉
互助遵法尚德
不安青牛
从容芮
iNk
Henry
遥远的尧
皖公网安备34019202002308
