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Investigation of defect levels in Bi12SiO20 single crystals by thermally stimulated current measurements
Bi12SiO20单晶缺陷能级的热刺激电流测量研究
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期刊:Physica Scripta 作者:M. Isik; S. Delice; N.M. Gasanly 出版日期:2021-12-01 |
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