标题 |
Kelvin probe force microscopy and its application
凯尔文探针力显微镜及其应用
相关领域
开尔文探针力显微镜
伏打电位
显微镜
工作职能
扫描探针显微镜
纳米技术
化学
光电发射电子显微术
光电子学
光学
材料科学
物理
电子显微镜
图层(电子)
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DOI | |
其它 |
期刊:Surface Science Reports 作者:Wilhelm Melitz; Jian Shen; Andrew C. Kummel; Sangyeob Lee 出版日期:2010-11-26 |
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