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Theoretical analysis of thermal boundary conductance of MoS2-SiO2 and WS2-SiO2 interface
MoS 2-SiO2和WS 2-SiO2界面热边界电导的理论分析
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期刊:Nanotechnology 作者:Zhun‐Yong Ong; Yongqing Cai; Gang Zhang; Yong‐Wei Zhang 出版日期:2020-12-10 |
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