标题 |
Gate Work Function-Engineered Graded-Channel Macaroni MOSFET: Exploration of Temperature and Localized Trapped Charge-Induced Effects with GIDL Analysis
栅极功函数工程分级沟道通心粉MOSFET:用GIDL分析探索温度和局域俘获电荷诱导效应
相关领域
排水诱导屏障降低
光电子学
材料科学
阈值电压
MOSFET
泄漏(经济)
晶体管
隧道场效应晶体管
电压
阈下传导
场效应晶体管
电气工程
工程类
宏观经济学
经济
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期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Pritha Banerjee; Jayoti Das 出版日期:2022-01-13 |
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