标题 |
Wafer size effect on material removal rate in copper CMP process
晶片尺寸对铜CMP工艺材料去除率的影响
相关领域
薄脆饼
铜
材料科学
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期刊:Journal of Mechanical Science and Technology 作者:Minjong Yuh; Soocheon Jang; In Ho Park; Haedo Jeong 出版日期:2017-06-01 |
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