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 Thin film characterization using terahertz differential time-domain spectroscopy and double modulation 基于太赫兹差分时域光谱和双调制的薄膜表征
相关领域
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表征（材料科学）
光谱学
材料科学
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期刊：Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者：Samuel P. Mickan; Kwang-Su Lee; Toh‐Ming Lu; Edward V. Barnat; Jesper Munch; et al 出版日期：2001-11-21 |
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