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 A general one-step plug-and-probe approach to top-gated transistors for rapidly probing delicate electronic materials 用于快速探测精密电子材料的顶控晶体管的通用一步即插即用方法
相关领域
晶体管
小型化
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| 其它 |
期刊：Nature Nanotechnology 作者：Laiyuan Wang; Peiqi Wang; Jin Huang; Bosi Peng; Chuancheng Jia; et al 出版日期：2022-10-20 |
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