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 Simultaneous 2D in-plane deformation measurement using electronic speckle pattern interferometry with double phase modulations 双相位调制电子散斑干涉法同时测量二维面内变形
相关领域
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电子散斑干涉技术
斑点图案
散斑成像
干涉测量
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相位调制
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期刊：Chinese Optics Letters 作者：Yunlong Zhu; Julien Vaillant; Guillaume Montay; Manuel François; Yassine Hadjar; et al 出版日期：2018-01-01 |
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