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Accurate Statistical BER Analysis of DFE Error Propagation in the Presence of Residual ISI
残余码间干扰下DFE误差传播的精确统计误码率分析
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期刊:IEEE Transactions on Circuits and Systems Ii-express Briefs 作者:Kunmo Kim; Paul Kwon; Elad Alon 出版日期:2022-02-01 |
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