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Universal Hot Carrier Degradation Model under DC and AC Stresses
直流和交流应力下通用热载流子退化模型
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期刊:2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:Chu Yan; Yaru Ding; Yiming Qu; Liang Zhao; Yi Zhao 出版日期:2022-03-01 |
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