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![]() 双有源桥串联谐振变换器中Si IGBT和SiC MOSFET开关损耗行为的实验研究与比较
相关领域
绝缘栅双极晶体管
MOSFET
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期刊: 作者:Onkar Bhakare; Kousik Ghosh; Surja Sekhar Chakraborty; Kamalesh Hatua 出版日期:2023-06-06 |
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