标题 |
High curvature bending characterization of ultra-thin chips and chip-on-foil assemblies
超薄芯片和箔上芯片组件的高曲率弯曲表征
相关领域
弯曲半径
材料科学
菊花链
弯曲
曲率半径
薄膜
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硅
曲率
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几何学
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