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High Thermal Stability and Low Thermal Resistance of Large Area GaN/3C‐SiC/Diamond Junctions for Practical Device Processes
用于实际器件工艺的大面积GaN/3C-SiC/金刚石结的高热稳定性和低热阻
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期刊:Small 作者:Ryo Kagawa; Zhe Cheng; K. Kawamura; Yutaka Ohno; Chiharu Moriyama; et al 出版日期:2023-11-14 |
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