| 标题 |
 Structure and hydrogen content of polymorphous silicon thin films studied by spectroscopic ellipsometry and nuclear measurements 用光谱椭偏和核测量研究多晶硅薄膜的结构和氢含量
相关领域
材料科学
弹性后坐力检测
椭圆偏振法
无定形固体
硅
氢
分析化学（期刊）
非晶硅
电介质
薄膜
空隙（复合材料）
光谱学
内容（测量理论）
晶体硅
结晶学
纳米技术
复合材料
物理
光电子学
化学
数学分析
量子力学
色谱法
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Physical review. B, Condensed matter and materials physics 作者：Anna Fontcuberta i Morral; Pere Roca i Cabarrocas; C. Clerc 出版日期：2004-03-10 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
薰硝壤
Singularity
Leonardi
paparazzi221
可靠的书桃
一一
完美的天空
pcr163
HEIKU
寻道图强
咖啡豆
陈军
yufanhui
pluto
8R60d8
tuanheqi
坚强亦丝
sissiarno
Yziii
皖公网安备34019202002308
