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 Study of surface weak spots on SiC Schottky Diodes under specific operating regimes by Infrared Lock-in sensing 特定工作状态下SiC肖特基二极管表面薄弱点的红外锁定传感研究
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期刊： 作者：Javier León; X. Perpiñà; M. Vellvehı́; X. Jordà; Philippe Godignon 出版日期：2014-09-01 |
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