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Device Simulation of Grain Boundaries in Lightly Doped Polysilicon Films and Analysis of Dependence on Defect Density
轻掺杂多晶硅薄膜晶界的器件模拟及缺陷密度依赖性分析
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Mutsumi Kimura; Satoshi Inoue; Tatsuya Shimoda; Toshiyuki Sameshima 出版日期:2001-01-01 |
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