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Accurate evaluation of fast threshold voltage shift for SiC MOS devices under various gate bias stress conditions
各种栅极偏压条件下SiC MOS器件快速阈值电压漂移的精确评估
相关领域
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阈值电压
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Mitsuru Sometani; Mitsuo Okamoto; Tetsuo Hatakeyama; Yohei Iwahashi; Mariko Hayashi; et al 出版日期:2018-03-23 |
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