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Correlation of defect depth with diffusion time of eddy currents for the defects in conducting materials using transient eddy current NDE
瞬态涡流无损检测导电材料缺陷深度与涡流扩散时间的关系
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期刊:Measurement Science and Technology 作者:Ijee Mohanty; R. Nagendran; A. Valan Arasu; R. Baskaran; Awadhesh Mani 出版日期:2018-07-26 |
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