标题 |
SEE in a 0.15 /spl mu/m fully depleted CMOS/SOI commercial Process
参见0.15/spl mu/m完全耗尽CMOS/SOI商业工艺
相关领域
绝缘体上的硅
CMOS芯片
材料科学
光电子学
辐射硬化
电子线路
MOSFET
电气工程
电子工程
晶体管
工程类
电压
硅
探测器
|
网址 | |
DOI | |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|