标题 |
Monolithic E/D-mode P-GaN/AlGaN/GaN HFETs using reactivation annealing process
采用再激活退火工艺的单片E/D模式P-GaN/AlGaN/GaN HFET
相关领域
材料科学
退火(玻璃)
光电子学
氮化镓
过程(计算)
纳米技术
冶金
计算机科学
图层(电子)
操作系统
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其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Yeo-Reum Yang; Jun-Hyeok Yim; Hyun-Seop Kim; Ho‐Young Cha 出版日期:2024-05-03 |
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