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 Near-Free Lifetime Extension for 3-D nand Flash via Opportunistic Self-Healing 通过机会性自我修复实现3D NAND闪存近乎免费的寿命延长
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期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Tianyu Ren; Qiao Li; Yina Lv; Min Ye; Nan Guan; et al 出版日期：2024-11-01 |
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